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百图氮化铝TA系列:全粒径散热 “芯” 方案
发布时间:2025.07.08

在电子器件向高功率密度、微型化集成演进的趋势下,散热性能成为制约技术突破的核心瓶颈。传统氧化铝(Al₂O₃)填料虽成本低廉,但热导率仅30-36W/m・K,已难以满足5G基站、新能源汽车电控系统等场景的散热需求。

氮化铝(AlN)粉体凭借理论热导率320W/m・K的性能(为氧化铝的7-10倍,接近金属铜),成为破局关键。其核心优势包括:

  • 热管理能力:实测热导率可达100-200W/m・K,支持芯片结温控制在<125℃;
  • 匹配兼容性:热膨胀系数(4-5ppm/℃)与硅基器件高度匹配,降低热应力失效风险;
  • 极端环境适应性:耐温达 2200℃(惰性气氛),绝缘电阻率>10¹⁴Ω・cm,适用于高压、高频、高温场景。

然而,氮化铝的产业化进程受其易水解特性制约:与水反应会生成无定形AlOOH,导致颗粒粘结,同时释放氨气,使设计的粉体特性(如粒径、比表面积)发生不可控变化。百图股份推出的TA系列氮化铝粉体,通过表面抗水解改性技术(如原子层沉积包覆)与全粒径工程设计(1μm-120μm),有效提升了产品性能。

全粒径产品矩阵与适配场景

TA系列粉体通过精准粒径分级(D50偏差≤±3%)与球形度控制,满足不同工艺需求:

  • 1μm 级纳米粉体高纯度、低氧含量、表面光滑,易均匀分散于硅胶、树脂基体,填充大粒径间隙形成连续导热网络,显著提升导热硅脂、导热垫片的热导率(提升20%-40%)。
  • 20-120μm 球形粉体高球形度与光滑表面确保在树脂基体系中低阻力分散,兼具高填充率与优异挤出加工性,适用于导热界面材料(TIMs)与功率器件封装。


百图股份已实现1μm-120μm全粒径规模化量产,关键规格参数如下(表 1):


表1 TA系列产品基础数据表

可靠性核心:纯度控制

氮化铝粉体中 Na⁺、K⁺、Fe³⁺等金属离子杂质,在高温(>200℃)或强电场(>10kV/mm)下会发生电迁移,导致漏电流增大或材料劣化。以 TA-F30(D50=36.7μm)为例,其杂质含量显著低于竞品,能够更有效地保障器件性能长期稳定性(表2):

Ca含量:1453ppm(较竞品1降低 32%);Y含量:24162ppm(较竞品2降低 17%)。

表2 TA-F30杂质含量对比(ppm)


性能优势:高热导率与加工性

在相同配方、相同填充率下,TA-F30的导热性能与加工性表现优异(表3):热导率:6.448W/m・K,较竞品1提升 5.17%;粘度:10/s剪切速率下为225,741mPa・s,低于竞品2(247,857mPa・s),流动性更优。


表3 TA-F30应用数据对比

 

关键挑战:抗水解性能

水分子侵入氮化铝粉体会生成AlOOH与NH₃,导致导热失效与绝缘性恶化。60℃水浴测试显示(图1),TA-F30的pH上升趋势显著缓于竞品,抗水解性较竞品更优异。

图1 TA-F30与竞品抗水解测试对比
 

氮化铝粉体以高热导、高可靠、高兼容的特性,正在重塑电子散热材料格局。百图股份通过纯度控制、粒径工程、表面改性三大技术,破解产业化瓶颈,为5G、新能源汽车等领域提供从材料到方案的全维度支持。随着散热技术的突破,氮化铝将推动高功率电子器件迈向更高效、更可靠的未来。